Advanced imaging modes in AFM for a variety of applications | 파크시스템스 웨비나
Автор: Park Systems
Загружено: 2021-08-29
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표면 구조와 표면을 구성하는 재료의 특성을 파악하는 것은 나노 스케일에서 재료의 거동을 이해하는 데 필수적입니다. 나노 스케일에서 표면 측정은 주사전자현미경(SEM), 투과전자현미경(TEM), 주사탐침현미경(SPM)과 같은 다양한 계측장비에 의해 가능합니다. AFM(Atomic Force Microscopy)은 표면 형태와 함께 시료의 다양한 특성을 측정할 수 있는 SPM 제품군의 주요 장비입니다.
AFM의 기본 이미징 모드에는 Non-Contact, Contact, Tapping mode 가 있으며, 이러한 기본 모드에서 시료의 전기적, 기계적, 자기적 특성과 같은 서로 다른 특성을 측정하기 위해 다양한 고급 모드가 개발되었습니다.
· Electrical Modes: EFM, KPFM, Conductive-AFM, PFM
· Nanomechanical Modes: Nanoindentation, FD spectroscopy, PinPoint mode
· Special Modes: MFM, SThM, SICM, SECCM
이번 웨비나에서는 AFM 응용 모드의 원리와 다양한 측정 예들을 소개하였습니다. AFM의 고급 이미징 모드에 대한 지식을 얻는 데 유용한 자료가 될 것으로 기대합니다.
정구은 차장 (Gordon Jung) | Application Scientist
Park Systems, Application Technology Center
정구은 차장은 고려대학교에서 STM을 전공하였으며, 2007년 12월부터 파크시스템스 본사 Application Technology Center에 Application Scientist 로 입사하여 AFM 측정, Bio 장비 개발 및 SICM 모드 개발, PPL 모드 개발 등 다양한 활동에 참여하고 있습니다.
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#파크시스템스 #AFM #원자현미경
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