Автор: 李建模（James CM Li）
Загружено: 2018-08-17
Просмотров: 5292
VLSI testing, National Taiwan University
2 1 LogicSim Intro
11 1 DFT1 Intro
Automatic Test Pattern Generation (ATPG)
VLSI Testing
Testability of VLSI
«Транзистор»: документальный фильм 1953 года, предвосхищающий его влияние на технологии.
Susan McConnell (Stanford): Designing effective scientific presentations
Почему мы верим телефонным мошенникам? — Семихатов, Ениколопов
Basic Concepts of DFT
12 1 DFT2 JTAG Intro
vlsi dft wrappers_part1
Мы ЗАСТРЯЛИ в Солнечной системе, и вот почему... | Михаил Никитин, Борис Штерн
6 1 Testability Intro
Стандарт периферийного сканирования
Встроенная самопроверка (часть 1)
НОВЫЕ ПРАВА И СТС 2026: новый РАЗВОД ДПС, 55 000 000₽ за ржавчину, новые ловушки и знаки ПДД
Зачем подключать конденсатор параллельно диоду? Вот почему!
Career as a VLSI DFT Engineer!
Замуж в 12, рыцари-скуфы и пояса верности. Настоящее Средневековье | ФАЙБ
11 3 DFT1 - Test Mode Operation (SSF & Delay Test LOS/LOC)