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半導體晶圓檢測(科工館展示)
Автор: rocjuh
Загружено: 15 апр. 2025 г.
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科工館展示作品介紹
半導體晶圓檢測是半導體製造過程中的重要環節，主要目的是檢測晶圓上每個晶粒的功能和性能。這些檢測通常在封裝之前進行，以篩選出符合設計規範的良品晶粒，避免浪費資源。
這些檢測不僅能提高製程良率，還能降低成本損失，對整個半導體製造流程至關重要。
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