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inVision TechTalk: TKH 배터리, 제지, 필름 및 유리 산업을 위한 고급 표면 검사
Автор: Euresys 코리아
Загружено: 2026-01-06
Просмотров: 15
Описание:
이 웨비나에서는 Chromasens의 Robin ZIRKLER와 Euresys의 Christophe CHAUDY가 Chomasens 카메라 및 Euresys Open eVision과 같은 TKH Vision 기술을 사용하여 배터리, 제지, 필름 또는 유리 산업의 표면 검사 애플리케이션을 구축하는 방법을 설명합니다. 최고의 성능을 달성하기 위해 기존 비전 도구와 AI 기반 도구를 결합하는 방법을 설명합니다.
타임라인:
00:00 - 00:45 소개
00:45 - 01:30 Chromasens 라인 스캔 소개
01:30 - 02:01 Chromasens - 회사 소개
02:01 - 08:49 표면 검사를 위한 고급 라인 스캔 데이터 수집
08:49 - 09:25 Euresys - Open eVision을 활용한 표면 검사
09:25 - 09:57 Euresys - 회사 소개
09:57 - 19:14 Open eVision - EasySpotDetector
19:14 - 23:26 Q&A
[V213KT]
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