Внутрисистемное тестирование для центров обработки данных ИИ
Автор: Semiconductor Engineering
Загружено: 2025-10-20
Просмотров: 957
Тестирование на заводе может определить, соответствует ли чип или корпус всем функциональным требованиям в момент запуска, но поведение этого чипа в полевых условиях в течение всего срока службы, при различных рабочих нагрузках и условиях окружающей среды может существенно различаться. Это особенно актуально для центров обработки данных ИИ, где использование одного или нескольких кристаллов может быть значительно выше, чем в предыдущих приложениях, что приводит к увеличению интенсивности отказов, поскольку скрытые дефекты превращаются в реальные, а условия эксплуатации, такие как повышенное напряжение, мощность или температура, ускоряют старение устройства. Ниланджан Мукерджи, вице-президент по инжинирингу подразделения Tessent в Siemens EDA, рассказывает Semiconductor Engineering о том, как, когда и где разрабатывать внутрисистемные тесты, как оптимизировать данные мониторинга для отдельных кристаллов или групп устройств в центре обработки данных, и как использовать эти данные для проактивного продления срока службы систем.
Доступные форматы для скачивания:
Скачать видео mp4
-
Информация по загрузке:
