Тестирование и тестируемость СБИС||Эквивалентность неисправностей||Устранение неисправностей||Тес...

👉👉👉Подпишитесь на мой канал в Telegram, чтобы получить доступ ко всем PPTS и заметкам, обсуждаемым на YouTube.

https://t.me/joinchat/Tdj1I9joK16TCaiA

--------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
В этом видео я объяснил концепцию эквивалентности неисправностей на примере. Основная цель концепции эквивалентности неисправностей — сократить количество неисправностей, а значит, и количество тестовых векторов.
---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------
1. Введение в проектирование СБИС:    • An Introduction to VLSI Design|| IC Fabric...  
2. Основные электрические свойства МОП- и БИ-КМОП-схем:    • Basic Electrical Properties of MOS& BI-CMO...  
3. МОП-инверторы и их конфигурации:    • MOS Inverters and their Configurations||VL...  
4. Базовые схемотехнические концепции проектирования СБИС. ЧАСТЬ 1:    • Basic Circuit Concepts in VLSI Design|Shee...  
5. Базовые схемотехнические концепции проектирования СБИС. ЧАСТЬ 2:    • Basic Circuit Concepts in VLSI Design|| Ro...  
6. Базовые схемотехнические концепции проектирования СБИС. ЧАСТЬ 3:    • Basic Circuit Concepts in VLSI Design|| Dr...  
7. ФИЗИЧЕСКАЯ КОНСТРУКЦИЯ СБИС:    • VLSI  Physical Design||Floor Planning, Pla...  
8. ПОЛНОСТЬЮ ЗАКАЗНЫЕ И ПОЛУЗАЗНАЧИМЫЕ СТИЛИ ПРОЕКТИРОВАНИЯ СБИС:    • Full Custom and semi custom design styles ...  
9. Стили проектирования СБИС (программируемые логические устройства):    • Programmable Logic Devices|| VLSI DESIGN S...  
10. Проектирование уровня вентилей СБИС, ЧАСТЬ 1:    • VLSI GATE LEVEL DESIGN PART-1||VLSI DESIGN...  
11. Проектирование уровня вентилей СБИС, ЧАСТЬ 2:    • VLSI  GATE LEVEL DESIGN PART -2||Alternati...  
12. ТЕСТИРОВАНИЕ И КОНТРОЛИРУЕМОСТЬ СБИС, ЧАСТЬ 1:    • VLSI Testing &Testability||CMOS IC Testing...  
13. ТЕСТИРОВАНИЕ И КОНТРОЛИРУЕМОСТЬ СБИС, ЧАСТЬ 2:    • VLSI Testing &Testability||CMOS IC Testing...  
14. Метод булевой разности:    • Testing and Testability||Combinational ATP...  
15. Комбинационная управляемость и наблюдаемость на основе SCOP:    • Testing and Testability||Testability Analy...  
16. Концепция эквивалентности неисправностей (схлопывания неисправностей):    • VLSI Testing &Testability||Fault Equivalen...