Atomic Force Microscope
Автор: INUP - i2i
Загружено: 2024-08-27
Просмотров: 208
Atomic Force Microscope (AFM) is used for imaging a sample and to measure surface potential, morphology, electrical properties and etc. of different type samples.
Доступные форматы для скачивания:
Скачать видео mp4
-
Информация по загрузке: