ASIC Interview Questions | Process, Voltage and Temperature (PVT) Corner | On-chip Variations
Автор: Flop_n_Adder
Загружено: 2023-05-21
Просмотров: 10542
• Effect of the process, voltage, temperature changes • CMOS device/circuit performance • PVT corner • PVT corners • Characterization • FF • SS • FS • SF • Static timing analysis (STA) • On-chip variation • ASIC Interview Questions
Доступные форматы для скачивания:
Скачать видео mp4
-
Информация по загрузке: