CCEM Webinar - 26/01/2023 – The evolution of voltage metrology to the latest generation of JVSs
Автор: The BIPM
Загружено: 2023-01-30
Просмотров: 917
The evolution of voltage metrology to the latest generation of JVSs.
Alain Rüfenacht (NIST)
Доступные форматы для скачивания:
Скачать видео mp4
-
Информация по загрузке: