Operação Microcopio Eletrônico de Transmissão - MET/Tecnai - FEG - LCE / UFSCar

00:00:00 Introdução sobre o treinamento e equipamento
00:00:43 Processo de retirada e inserção da amostra
00:05:56 Apresentação das funcionalidade dos painéis
00:10:48 Considerações importantes antes do início da operação
00:12:28 Apresentação das lentes e aberturas físicas do microscópio
00:16:10 Início da operação
00:18:33 Alinhamento inicial: lente condensadora C2
00:21:28 Ajuste da altura da amostra (ver continuação em 00:27:22)
00:26:32 Considerações iniciais sobre os alinhamentos do feixe - Modo TEM
00:28:52 Alinhamentos principais do feixe - Modo TEM
00:30:58 Alinhamento - "Gun Shift"
00:37:12 Alinhamento - "Pivot point X" e "Pivot point Y"
00:38:35 Alinhamento - "Rotation Center"
00:40:43 Astigmatismo - Condensadora C2
00:42:21 Considerações iniciais sobre imagens de Campo Claro / Campo Escuro / Difração
00:42:55 Imagem: Padrão de difração de área selecionada (SAED)
00:46:36 Aquisição Imagem Câmera CCD (Difração)
00:48:25 Difração: ajuste de foco e astigmatismo
00:49:55 Difração: imagens com diferentes tempos de exposição - Ajuste "gamma"
00:50:57 Difração: exportar e salvar as imagens no software TIA
00:52:09 Difração em diferentes constantes de câmera
00:53:28 Considerações iniciais: imagens de Campo Claro e Campo Escuro
00:54:59 Imagens Campo Claro / Campo Escuro
00:55:38 Inserção da Lente Objetiva e alinhamento
00:58:14 Campo Claro: capturar, salvar e exportar imagem - TIA
01:01:00 Campo Escuro: método simples - imagem a partir da movimentação da abertura da objetiva
01:03:44 Campo Escuro: método simples - capturar, salvar e exportar imagem - TIA
01:04:46 Campo Escuro: explicação do método
01:05:30 Campo Escuro: método recomendado - modo Dark Field
01:11:00 EDS no modo TEM - ajustes iniciais
01:14:53 EDS no modo TEM - captura do sinal, identificação e quantificação dos elementos
01:18:22 Finalização da análise e considerações finais - modo TEM