Автор: 李建模（James CM Li）
Загружено: 2020-01-31
Просмотров: 3424
VLSI testing, National Taiwan University
7 8 Комбинированная АТПГ, методы ускорения
9 1 DelayTest Intro
7 6 Combinational ATPG, FAN
16 1 MemTest Intro
VLSI Testing
7 4 Combinational ATPG, D-algorithm
Что обнаружено после взлома разработчика электронных повесток?
Проектирование для тестируемости
Как взломать любое программное обеспечение
Теренс Тао о том, как Григорий Перельман решил гипотезу Пуанкаре | Лекс Фридман
3 3 FaultModeling BridgeFault
Валидация и верификация имитационных моделей
18 3 Advanced Topics: IDDQ testing
Вейвлеты: математический микроскоп
⚡️ Удар по скоплению войск || Путин заявил о шоке
Lecture 57: Test Pattern Generation
Зачем подключать конденсатор параллельно диоду? Вот почему!
Как производятся микрочипы? 🖥️🛠️ Этапы производства процессоров
7 9 Combinational ATPG, FAN open source code(*optional)
“Hello, world” from scratch on a 6502 — Part 1