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【パワエレ】ゲートドライバやMOSFETの遅延による悪影響 Time Delay of Gate Driver and MOSFET
Автор: パワーエレクトロニクス研究室―Power Electronics Lab.
Загружено: 2021-04-29
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Описание:
00:00 設定値と実際のデューティのずれ
01:36 遅延等によるデューティのずれ
03:35 遅延等によるレグ短絡の恐れ
05:00 実験による遅延時間の確認
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MOSFETの寄生容量による損失
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#パワエレ #MOSFET #ゲートドライバ
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