MSE585 F20 Lecture 20 Module 3 - Phase-Contrast or HRTEM
MSE 585 F20 Lecture 21 Module 2 - TEM SAD: Indexing Cubic Patterns Example
FEI Tecnai F20 S/TEM: 2-beam imaging
Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) in SEM
Этот ракетный двигатель не был разработан людьми.
Constructing an Ewald Sphere
Почему магниты магнитят?
Performing STEM alignment using the Ronchigram
Преломление и «замедление» света | По мотивам лекции Ричарда Фейнмана
Four-dimensional Scanning Transmission Electron Microscopy
ДНК создал Бог? Самые свежие научные данные о строении. Как работает информация для жизни организмов
MSE585 F20 Lecture 20 Module 4 - TEM Selected-Area Diffraction
TEM Alignment – JEOL 2100 S/TEM
Microscopy: Dark Field, Phase Contrast, Polarization and DIC (Edward Salmon)
MSE 585 F20 Lecture 21 Module 4 - Imaging Defects in TEM
FEI Tecnai F20 S/TEM: high-resolution (lattice) imaging
Transmission Electron Microscope, Part 1 of 2
27.2: Weak-beam dark-field (WBDF) imaging
MSE 585 F20 Lecture 21 Module 1 - TEM SAD: Indexing Cubic Patterns
ПЭМ: Трансмиссионная электронная микроскопия – подготовка образцов наночастиц и демонстрация.