Microscopia eletrônica para caracterização de materiais
Автор: Prof. André Carlos Silva
Загружено: 2025-06-05
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Nesta palestra, iremos abordar os princípios e aplicações da microscopia eletrônica como ferramenta essencial na caracterização de materiais. Será abordada a técnicas de Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV), destacando suas capacidades de resolução e análise microestrutural. A apresentação incluirá exemplos práticos de aplicação em diferentes áreas, como engenharia, nanotecnologia e ciência dos materiais, evidenciando como essa técnica contribui para o desenvolvimento e aprimoramento de novos materiais.
Profª. Drª. Tatiane Oliveira dos Santos
Graduada em Licenciatura Plena em Física pela PUC Goiás, mestrado em Física pela UFG, doutorado em ciência pela UNICAMP e pós-doutorado pela UFG. Atualmente é a responsável técnica pelo Laboratório Multiusuário de Microscopia de Alta Resolução (LabMic) da UFG. Tem experiência na área de Física, com ênfase em crescimentos de cristais (sillenitas), medida de vibrações mecânicas com um padrão de luz vibrante do tipo "speckle", microscopias eletrônicas de varredura e de transmissão, microscopia de força atômica, espectroscopia vibracional Raman.
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